| Untersuchung der Gitterdynamik und Struktur von Festkörpern mit Neutronen und Gammastrahlen. Entwicklung theoretischer Gittermodelle. Apparative Entwicklungen von Neutronen- und Gamma-Diffraktometern sowie Spektrometern |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Untersuchung der Gitterdynamik und Struktur von Festkörpern mit Neutronen und Gammastrahlen. Entwicklung theoretischer Gittermodelle. Apparative Entwicklungen von Neutronen- und Gamma-Diffraktometern sowie Spektrometern |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Struktur und Dynamik von Memory-Legierungen |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Gitterdynamik von Festkörpern durch Spektroskopie und Diffraktometrie mit Neutronen und Gamma-Strahlen |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Gitterdynamik von Festkörpern durch Spektroskopie und Diffraktometrie mit Neutronen und Gamma-Strahlen |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Domaenendynamik bei Memory-Verbindungen |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Anwendung der Aktivierungsanalyse mit He-Ionen zum Nachweis Kleinster Konzentrationen von C und O in Halbleiter-Kristallen (Si) und anderen Technologisch Interessanten Reinststoffen. Untersuchung und Beseitigung Systematischer Fehlerquellen |
Frankfurt am Main |
Johann Wolfgang Goethe-Universität Frankfurt am Main - FB 13 Physik - Institut für Kernphysik |
| Anpassung eines großflächigen Neutronen-Detektors mit Optik an einen Bildverstärker; Anschluß an Pdp 8e-Rechner; Verarbeitung von Bildinformationen |
Frankfurt am Main |
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| Anwendung der Aktivierungsanalyse mit 3he-Ionen zum Nachweis Kleinster Konzentrationen von C und O in Halbleiter-Kristallen (Si) und anderen Technologisch Interessanten Reinststoffen. Untersuchung und Beseitigung Systematischer Fehlerquellen |
Frankfurt am Main |
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| Anpassung eines großflächigen Neutronen-Detektors mit Optik an einen Bildverstärker; Anschluß an Pdp 8e-Rechner; Verarbeitung von Bildinformationen |
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